ETS 4406靜電衰減分析檢測(cè)儀采用充電法測(cè)試材料的靜電衰減特征，被測(cè)試材料被固定在試樣夾之間，高壓直流電源通過(guò)試樣夾給材料充電，當(dāng)材料上的電壓達(dá)到5000V后，試樣夾接地，記錄材料表面電壓衰減時(shí)間。

ETS 4406靜電衰減分析測(cè)試儀是406D改進(jìn)版，采用充電法測(cè)試材料的靜電衰減特征，被測(cè)試材料被固定在試樣夾之間，高壓直流電源通過(guò)試樣夾給材料充電，當(dāng)材料上的電壓達(dá)到5000V后，試樣夾接地，記錄材料表面電壓衰減時(shí)間。

防護(hù)服靜電衰減性能測(cè)試儀充電電壓：0～5.5kV;配套法拉第測(cè)試籠提供一個(gè)屏蔽空間，試樣放置在法拉第籠內(nèi)進(jìn)行測(cè)試，法拉第籠通過(guò)配套連接線連接406D主機(jī);

防護(hù)服靜電衰減性能測(cè)試儀用于測(cè)試紡織服裝、醫(yī)用無(wú)菌服材料、非織造布、復(fù)合材料、薄膜材料等試樣在施加±5000V電壓后，測(cè)定試樣由峰值電壓衰減到10%的靜電衰減的時(shí)間。

直流充電法靜電衰減/防護(hù)材料靜電減測(cè)試儀技術(shù)特點(diǎn)： 1.406D配置的磁吸棒用于薄膜和布匹材料的測(cè)試，金屬夾具可以測(cè)試較厚的塊狀物、發(fā)泡物或其他形狀和質(zhì)地的材料;2.選配IC管型夾具可以無(wú)損測(cè)試IC芯片包裝管; 3.選配806B無(wú)損測(cè)試電極可以直接放置在試樣上，還可以測(cè)試粉體和液體靜電衰減時(shí)間; 4.配套法拉第測(cè)試籠提供一個(gè)屏蔽空間，試樣放置在法拉第籠內(nèi)進(jìn)行測(cè)試，法拉第籠通過(guò)配套連接線連接4